自动光学检测系统，专为检测最小孔径至75µm的塞孔而设计

Galaxy PVH — 康代AOI系统，专为多层线路板和HDI板中塞孔的检测需求而推出的解决方案。

在PCB制作过程中，通常需要将树脂或者其他材料塞入机械钻孔或镭射钻孔中填平，以便进行后续压合等工序；Galaxy PVH系统，可被用于同时检测这两款类型塞孔上出现的各种缺陷，并为客户提供精准可靠的检测数据。

此AOI设备采用了康代先进的光学技术Microlight™，以提供理想的光覆盖能力，从而满足最严苛的检测要求。通过将高品质的影像与支持个性化设置的检测算法完美结合，进一步激发出设备的最佳性能。

在满足大批量生产检测需求的前提下，Galaxy PVH致力于为客户提供卓越、可靠且精准的检测能力，尽其所能完美地检测每一个树脂塞孔的深度，从而最大限度地解决客户的各类诉求。

不仅如此，客户也可自行选配安装CIMS的统计报表功能，其强大的性能可为客户提供钻孔机实时、可靠的校准数据。

PVH，是可在某些指定CIMS AOI机型上增配的功能性选项，检测能力可达最小75微米直径的塞孔。这一新系统的产生，进一步丰富了CIMS产品线，为钻孔检测的应用提供了新的选择。

在PCB制作过程中，通常需要将树脂或者其他材料塞入机械钻孔或镭射钻孔中填平，以便进行后续的压合等工序；CIMS推出的PVH功能性选项，可以进一步扩展CIMS AOI的检测能力，被用于检测这两款类型的钻孔上出现的所有缺陷类型，最终为客户提供精准可靠的检测数据。

在满足客户大批量生产需求的前提下，CIMS所开发的PVH功能选项，致力于为客户提供卓越、可靠、精准的检测能力，帮助客户完美地检测出每一个树脂塞孔的深度，交出令客户满意的答卷。

CQC – 康代品质管理中心，它是一款可以帮助用户从AOI实时生成的数据中，及时查看当下出现的质量问题的实时品质监控工具。

CQC是如何工作的呢？

当用户在一台独立的计算机上安装CQC软件，并将其与CDBIC服务器相连接后，就可以直接从计算机中获取AOI和CVR系统所生成的实时数据。CQC拥有灵活可调的选项界面，以适应各种类型的用户和个性化的需求。

举例来说：品质经理可能对板子上的缺陷分布统计与趋势、当前产量、缺陷分布图和某种特定类型缺陷感兴趣；而生产部门的管理者或许更在意设备的利用率，或是完成扫描与检修的总板数；这时，AOI主管就可相应地配置一个视图，同时显示当前的设备状态、平均点数趋势或每个机器的产能状况。

简易的操作模式，自由设定各种各样的视图和选项搭配生成定制化界面，不但满足了用户的多样化需求，更使得CQC成为适用于每道PCB制造工序的非凡工具。

自动光学检测系统，专为最小孔径低至20µm的镭射通孔而设计

Galaxy VIA系列，是康代专为量产HDI或IC载板中的镭射通孔的检测需求而推出的解决方案。此系列产品囊括了以下几款细分型号：

• Galaxy VIA 20µ – 检测能力可精细至20µm孔径
• Galaxy VIA 25µ – 检测能力可精细至25µm孔径
• Galaxy VIA 30µ – 检测能力可精细至30µm孔径

基于独一无二的ViaLight™技术，康代为Galaxy VIA系列设计了专用的内置透射性光源台面；搭配可选功能Microlight™，更可通过结合顶部光覆盖技术，确保检测设备获得最精确、最完整的通孔内外影像。

如上所述，Galaxy VIA系列设备可支持扫描最精密至20µm孔径的镭射通孔，其支持检测的缺陷类型包括：孔径过大或过小、孔内污染、碎屑、孔堵塞、漏打孔以及超出允许偏差范围的孔位偏移。

此外，强大的统计软件包还可以帮助用户实现实时监控镭射钻孔设备的制程能力，并进一步扩展Galaxy VIA系列设备的性能。