CIMS Galaxy LV
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产品介绍

康代自动光学检测系统,专为检测孔径细至10µm的镭射盲孔而设计

Galaxy LV系列,是康代专为量产HDI或IC载板中镭射盲孔的检测需求而推出的解决方案。此系列产品囊括了以下几款细分型号:

  • Galaxy LV 10x – 检测能力可精细至10µm孔径
  • Galaxy LV 15x – 检测能力可精细至15µm孔径
  • Galaxy LV 20x – 检测能力可精细至20µm孔径
  • Galaxy LV 25x – 检测能力可精细至25µm孔径

此系列设备采用了康代最新的特定光学技术,经专门校准后,旨在能采集到镭射盲孔电镀前后以及开铜窗工艺的最佳图像;与此同时,通过将高品质的影像与支持个性化设置的检测算法完美结合,进一步激发出设备的最佳性能。

基于优异的Galaxy产品族设计系统,康代还为Galaxy LV系列配备了高端的图像采集技术与先进的软件功能,在保证其卓越检测能力的同时,实现最低的误判率。

不仅如此,Galaxy LV系列还搭载了康代新一代跨平台检测引擎 – Spark 3.0™,强劲的检测能力由此得以进一步提升。

产品亮点

  • 平稳且静音运作的线性马达
  • 紧凑型Galaxy平台
  • 高性能的图像处理固件
  • 增强型的照明模块
  • 快速直观的新料号设定程序
  • 可自由搭载自动上下板机或机械手臂的兼容模式
  • 强大的统计报表功能
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选配功能

  • +2DM量测 – 二维涨缩测量
  • +2CD量测 – 二维线路元件尺寸测量
  • +3DP量测 – 三维元件轮廓测量
  • 强大的孔径和孔偏移统计软件包
  • CDB/CDBIC – 缺点信息整合数据库
  • VVS – 缺点虚拟验证系统

如需获取更多信息,欢迎您与我们联络:

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