自动光学检测系统，专为卷对卷制程中检测FPC的需求而设计，可检测线路最细可至25µm线宽/线距

Galaxy R2R 25µ — 康代AOI系统，是专为支持卷对卷(R2R)生产工艺设计，针对软板和软硬结合板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案，其检测能力可精细至25µm线宽/线距。

Galaxy R2R 25μ采用了康代先进的新一代光学技术Microlight™ Gen II，旨在提供理想的光覆盖能力，从而满足最严苛的检测要求；通过将高品质的影像与可定制的检测算法完美结合的方式，激发出设备的最佳性能。

基于优异的Galaxy产品族设计系统，康代还为Galaxy R2R 25μ配备了高端的图像采集技术与先进的软件功能，在保证其卓越检测能力的同时，实现最低的误判率。

不仅如此，Galaxy R2R 25μ还搭载了康代新一代跨平台检测引擎 – Spark™ 3.0，强劲的检测能力由此得以进一步提升。