Galaxy R2R 30μ

b 产品介绍 康代自动光学检测系统,专为卷对卷制程中检测FPC的需求而设计, 可检测线路最细低至30µm线宽/线距 Galaxy R2R 30µ — CIMS康代推出的最新AOI系统,是康代专为支持卷对卷(R2R)生产工艺设计,针对软板和软硬结合板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案,其检测能力可精细至30µm线宽/线距。 Galaxy R2R 30μ采用了康代先进的新一代光学技术Microlight Gen...

Galaxy R2R 25μ

b 产品介绍 康代自动光学检测系统,专为卷对卷制程中检测FPC的需求而设计, 可检测线路最细低至25µm线宽/线距 Galaxy R2R 25µ — CIMS康代推出的最新AOI系统,是康代专为支持卷对卷(R2R)生产工艺设计,针对软板和软硬结合板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案,其检测能力可精细至25µm线宽/线距。 Galaxy R2R 25μ采用了康代先进的新一代光学技术Microlight Gen...

Galaxy R2R 15μ

b 产品介绍 康代自动光学检测系统,专为卷对卷制程中检测FPC的需求而设计, 可检测线路最细低至15µm线宽/线距 Galaxy R2R 15µ — CIMS康代推出的最新AOI系统,是康代专为支持卷对卷(R2R)生产工艺设计,针对软板和软硬结合板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案,其检测能力可精细至15µm线宽/线距。 Galaxy R2R 15μ采用了康代先进的新一代光学技术Microlight Gen...