康代自动光学检测系统，专为检测最小孔径至75µm的塞孔而设计

Galaxy PVH — CIMS康代AOI系统，是康代专为多层线路板和HDI板中塞孔的检测需求而推出的解决方案。

在PCB制作过程中，通常需要将树脂或者其他材料塞入机械钻孔或镭射钻孔中填平，以便进行后续压合等工序；Galaxy PVH系统，可被用于同时检测这两款类型塞孔上出现的各种缺陷，并为客户提供精准可靠的检测数据。

此AOI设备采用了康代先进的光学技术Microlight™，以提供理想的光覆盖能力，从而满足最严苛的检测要求。通过将高品质的影像与支持个性化设置的检测算法完美结合，进一步激发出设备的最佳性能。

在满足大批量生产检测需求的前提下，Galaxy PVH致力于为客户提供卓越、可靠且精准的检测能力，尽其所能完美地检测每一个树脂塞孔的深度，从而最大限度地解决客户的各类诉求。

不仅如此，客户也可自行选配安装CIMS的统计报表功能，其强大的性能可为客户提供钻孔机实时、可靠的校准数据。