【企业动态】2024 JPCA 日本东京电子电路产业展览会

康代将参加在日本东京举行的2024 JPCA SHOW,欢迎您于6月12日至6月14日间莅临参观指导 JPCA是日本PCB业内重要的年度盛会,今年将于6月12日至6月14日在东京举行。 此次,康代将继续与合作伙伴Hakuto一起在 #5F-55展台亮相。 在展览期间,我们将展示最先进的AOI系统 — Galaxy 5Cx — 专用于检测高端IC载板的自动光学检测系统,拥有先进的彩色图像采集技术,且检测能力可达5μm线宽/线距。 同时我们将在现场为您带来康代全新智能虚拟验证系统 — AIVS —...

Galaxy 4Cχ

b 产品介绍   自动光学检测系统,专为检测线路最细至4µm线宽/线距的IC载板而设计   Galaxy 4Cχ – 康代最新AOI系统,增配彩色相机,设计用于新一代IC载板量产检测需求而设计,检测线路的能力最细可达4µm线宽/线距。 Galaxy 4Cχ采用了康代先进的新一代光学技术Prisma™ Gen II,旨在提供拥有最大对比度的灵活光覆盖能力,以支持高速扫描时高分辨率图像的采集需求;另一方面,通过将高清的采集图像与定制化的检测算法相结合,进一步激发出设备的最佳性能。...

Galaxy 5Cχ

b 产品介绍 康代自动光学检测系统,专为检测线路最细低至5µm线宽/线距的IC载板而设计 Phoenix Nano — CIMS康代新一代AOI系统,是康代为IC载板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案,检测能力可精细至5µm线宽/线距。 此AOI设备采用了康代最先进的光学技术Prisma™ ,旨在提供最大对比度的灵活光覆盖能力,以支持在高速扫描下的高分辨率图像采集需求;通过将清晰的高分辨率图像与可定制化的检测算法相结合,激发出设备的最佳性能。 基于众所周知的Phoenix产品族设计系统,Phoenix...

Galaxy 7Cχ

b 产品介绍 康代自动光学检测系统,专为检测线路最细低至7µm线宽/线距的IC载板而设计 Phoenix Micro — CIMS康代新一代AOI系统,是康代为IC载板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案,检测能力可精细至7µm线宽/线距。 此AOI设备采用了康代最先进的光学技术Prisma™ ,旨在提供最大对比度的灵活光覆盖能力,以支持在高速扫描下的高分辨率图像采集需求;通过将清晰的高分辨率图像与可定制化的检测算法相结合,激发出设备的最佳性能。...

Galaxy 10Cχ

b 产品介绍 康代自动光学检测系统,专为检测线路最细低至10µm线宽/线距的IC载板和超精细线路HDI板而设计 Phoenix Maxima — CIMS康代新一代AOI系统,是康代为IC载板和超精细线路HDI板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案,检测能力可精细至10µm线宽/线距。 此AOI设备采用了康代最先进的光学技术Prisma™ ,旨在提供最大对比度的灵活光覆盖能力,以支持在高速扫描下的高分辨率图像采集需求;通过将清晰的高分辨率图像与可定制化的检测算法相结合,激发出设备的最佳性能。...