康代将参加在韩国仁川举行的2024 KPCA SHOW，热切期待您于9月4日至6日间莅临参观指导！ KPCA作为韩国PCB行业的年度重头戏，今年定于9月4日至6日在仁川举行。届时，康代将带来一系列令人瞩目的展示，包括我们针对先进IC载板研发的尖端产品，以及为构建智能化工厂所打造的全套软件解决方案。 此次展会，我们将携手合作伙伴AKC，在 #510展台...
康代将参加在日本东京举行的2024 JPCA SHOW，欢迎您于6月12日至6月14日间莅临参观指导 JPCA是日本PCB业内重要的年度盛会，今年将于6月12日至6月14日在东京举行。 此次，康代将继续与合作伙伴Hakuto一起在 #5F-55展台亮相。 在展览期间，我们将展示最先进的AOI系统 — Galaxy 5Cx — 专用于检测高端IC载板的自动光学检测系统，拥有先进的彩色图像采集技术，且检测能力可达5μm线宽/线距。 同时我们将在现场为您带来康代全新智能虚拟验证系统 — AIVS —...
b 产品介绍 自动光学检测系统，专为检测线路最细至4µm线宽/线距的IC载板而设计 Galaxy 4Cχ – 康代最新AOI系统，增配彩色相机，设计用于新一代IC载板量产检测需求而设计，检测线路的能力最细可达4µm线宽/线距。 Galaxy 4Cχ采用了康代先进的新一代光学技术Prisma™ Gen II，旨在提供拥有最大对比度的灵活光覆盖能力，以支持高速扫描时高分辨率图像的采集需求；另一方面，通过将高清的采集图像与定制化的检测算法相结合，进一步激发出设备的最佳性能。...
b 产品介绍 康代自动光学检测系统，专为检测线路最细低至5µm线宽/线距的IC载板而设计 Phoenix Nano — CIMS康代新一代AOI系统，是康代为IC载板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案，检测能力可精细至5µm线宽/线距。 此AOI设备采用了康代最先进的光学技术Prisma™ ，旨在提供最大对比度的灵活光覆盖能力，以支持在高速扫描下的高分辨率图像采集需求；通过将清晰的高分辨率图像与可定制化的检测算法相结合，激发出设备的最佳性能。 基于众所周知的Phoenix产品族设计系统，Phoenix...
b 产品介绍 康代自动光学检测系统，专为检测线路最细低至7µm线宽/线距的IC载板而设计 Phoenix Micro — CIMS康代新一代AOI系统，是康代为IC载板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案，检测能力可精细至7µm线宽/线距。 此AOI设备采用了康代最先进的光学技术Prisma™ ，旨在提供最大对比度的灵活光覆盖能力，以支持在高速扫描下的高分辨率图像采集需求；通过将清晰的高分辨率图像与可定制化的检测算法相结合，激发出设备的最佳性能。...
