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说明

Fi(终检)选配功能适用于CIMS AOI成品检测,可作为CIMS Phoenix系列AOI所有机型的选配功能。

Fi可以可靠检测镀金、镀铜和阻焊层上的常见缺陷。设置简单直观:操作员选择合适的焊料层和丝印层,然后软件负责将其组合并生成高分辨率参考图,从而与扫描图像进行对比。具有Fi选配功能的系统将在专用终检界面进行参数设置。

Fi选配功能提高Phoenix AOI系统的通用性,使得更多应用和PCB制造流程阶段的检测性能进一步增强。

亮点

  • 集成CIMS AOI系统
  • 支持终检与常规检测
  • 支持采样检测和100%检测
  • 终检用户界面
  • 简单直观设置
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选配功能

  • +2DM量测 – 线路板尺寸测量
  • +2CD量测 – 线路元件二维测量
  • +3DH量测 – 线路元件三维深度测量
  • CDB/CDBIC连接 – 缺陷分类和虚拟缺陷映射
  • VVS连接 – 缺点虚拟验证系统

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