b 产品介绍 康代自动光学检测系统，专为检测孔径细至10µm的镭射盲孔而设计 Galaxy LV系列，是康代专为量产HDI或IC载板中镭射盲孔的检测需求而推出的解决方案。此系列产品囊括了以下几款细分型号： Galaxy LV 10x – 检测能力可精细至10µm孔径 Galaxy LV 15x – 检测能力可精细至15µm孔径 Galaxy LV 20x – 检测能力可精细至20µm孔径 Galaxy LV 25x – 检测能力可精细至25µm孔径...
b 产品介绍 康代自动光学检测系统，专为检测线路最细低至30µm线宽/线距 的HDI和多层线路板而设计 Galaxy 30μ — CIMS康代推出的最新AOI系统，是康代为HDI和多层线路板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案，其检测能力可精细至30µm线宽/线距。 Galaxy 30μ采用了康代先进的新一代光学技术Microlight Gen II™，旨在提供理想的光覆盖能力，从而满足最严苛的检测要求；通过将高品质的影像与可定制的检测算法完美结合的方式，激发出设备的最佳性能。...
b 产品介绍 康代自动光学检测系统，专为检测线路最细低至25µm线宽/线距 的HDI和高端多层线路板而设计 Galaxy 25μ — CIMS康代推出的最新AOI系统，是康代为HDI和高端多层线路板量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案，其检测能力可精细至25µm线宽/线距。 Galaxy 25μ采用了康代先进的新一代光学技术Microlight Gen II™，旨在提供理想的光覆盖能力，从而满足最严苛的检测要求；通过将高品质的影像与可定制的检测算法完美结合的方式，激发出设备的最佳性能。...
b 产品介绍 康代自动光学检测系统，专为检测线路最细低至15µm线宽/线距 的高端HDI PCB和精细线路PCB而设计 Galaxy 15μ — CIMS康代推出的最新AOI系统，是康代为高端HDI PCB和精细线路PCB量产时产生的检测需求而推出的专属解决方案，其检测能力可精细至15µm线宽/线距。 Galaxy 15μ采用了康代先进的新一代光学技术Microlight Gen...
b 产品介绍 康代自动光学检测系统，专为最小孔径低至75µm的塞孔而设计 Galaxy PVH — CIMS康代AOI系统，是康代专为检测多层线路板和HDI板中塞孔的需求而推出的专属解决方案。 在PCB制作过程中，通常需要将树脂或者其他材料塞入机械钻孔或镭射钻孔中填平，以便进行后续的压合等工序；Galaxy PVH系统，可用于同时检测这两款类型塞孔上出现的各种缺陷，并为客户提供精准可靠的检测数据。...
